MProbe 20是一种用于全球数千个应用的薄膜厚度测量台式系统。它只需单击鼠标即可测量薄膜厚度和折射率。可以快速可靠地测量1nm至1mm的厚度,包括多层膜堆叠。不同的MProbe 20模型主要通过光谱仪的波长范围和分辨率来区分,这反过来决定了可以测量的材料的厚度范围和类型。该测量技术基于光谱反射——快速、可靠且无损。
产地:美国
精度:<0.01nm或0.01%(在200nm氧化物上进行100次测量的s.d.)
<1nm或0.2%(依赖于胶片堆栈)
稳定性:<0.02nm或0.2%(20天,每天测量)
测量厚度:1nm至1mm
光斑尺寸:<1mm
样品尺寸:>=10mm
主机:包括光谱仪、光源、光控制器微处理器
样品台:SH200A
探头:光纤反射
测试样品:200nm氧化硅或PET薄膜
电缆:USB或LAN
电源适配器:24VDC
电压:110/220V