OKO波前传感器UI-1540LE

产品介绍

OKO波前传感器UI-1540LE是基于Shack-Hartmann原理的高性能波前测量设备，采用digital CMOS传感器，具备高精度、动态测量和灵活配置等特点，适用于自适应光学、激光通信和光学测试等领域。

高精度测量：凭借高分辨率CMOS传感器和优化的微透镜阵列设计，UI-1540LE能够实现高精度的波前测量，满足自适应光学、激光通信等领域对波前精度的严格要求。

动态测量能力：较高的扫描频率和闭环速度使得UI-1540LE能够实时捕捉动态波前变化，适用于需要快速反馈控制的场景。

灵活配置：OKO公司提供多种相机、哈特曼掩模和微透镜阵列选项，用户可根据实际需求定制波前传感器，满足不同应用场景的个性化需求。

易于集成：UI-1540LE采用标准的数据接口和通信协议，便于与其他光学设备和控制系统集成，降低系统开发和维护成本。

产地	荷兰
相机型号与类型	UI-1540LE，采用digital CMOS传感器。
相面尺寸	1/2英寸，空间分辨率为5.2微米，CCD分辨率为1280 x 1024像素。
数据接口	支持USB 2.0接口，确保数据传输的稳定性和速度。
微透镜阵列参数	像元几何形状：正方形，像素行距为150微米。
	像素焦距：10毫米，通光孔径不超过4.5毫米。
	采样点：most多可达700个，提供高精度的波前测量。
测量性能	max倾斜量：在快速搜索模式下为0.014弧度，确保对波前倾斜的准确捕捉。
	重复性：RMS值为λ/150，P-V值为λ/20，保证测量的稳定性和可靠性。
	扫描频率：不低于25帧/秒，适用于动态波前测量。
	闭环速度：10帧/秒，满足实时反馈控制的需求。
	Zernike项数：支持most多300项Zernike多项式拟合，整体描述波前像差。
光谱范围	400至1000纳米，覆盖可见光到近红外波段，适用于多种光学系统。

自适应光学系统：作为自适应光学系统的核心部件，UI-1540LE能够实时测量波前像差，为变形镜提供准确的反馈控制信号，实现光学像差的动态校正。

激光通信：在激光通信系统中，UI-1540LE可用于测量激光束的波前畸变，优化光束质量，提高通信效率和可靠性。

光学测试与测量：UI-1540LE还可用于光学系统的测试与测量，如评估光学元件的加工质量、检测光学系统的像差等。