阻隔膜厚度测量仪K-xray
- 品 牌：
- 型 号：K-xray
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技术资料：
KUNDIG阻隔膜厚度测量仪K-XRAY.pdf
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产品介绍
K-XRAY Rotomat KT是一款适用于吹膜生产线在线测厚的系统，可实时测量薄膜厚度。其产生的19千电子伏特强度X射线，即使在极薄薄膜上也能实现高分辨率厚度测量。
凭借这些独特特性，K-XRAY Rotomat KT成为测量阻隔薄膜的解决方案。
即使面对极薄且具有触感功能的阻隔膜，K-XRAY Rotomat KT传感器的测量精度依然能够实现高分辨率厚度检测。该技术基于X射线后向散射原理，并采用温度可控的气垫系统。通过搭载专利弯曲臂的振荡扫描仪，该设备能够以快速度直接在阻隔膜生产线的气泡上测量厚度分布曲线。
性能特点
- 传感器与薄膜间设有温控气隙（独特功能）
- 相较于压区后置测量仪，可更快获取厚度曲线
- 操作许可流程简便，优于固态辐射设备
- 采用X射线后向散射实现辐射测量（独特功能）
- 配备弯曲臂的振荡扫描仪
技术参数
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产地 |
瑞士 |
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电气接口 |
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电源 |
110-240 VAC，50/60 Hz 或 24VDC |
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功耗 |
max100 VA |
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厚度测量 |
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测量原理 |
电容式厚度传感器（适用于任何非导电材料） |
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测量频率 |
1 MHz |
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测量范围 |
10至300 µm（300 µm以上可定制） |
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测量间隔 |
50毫秒 |
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分辨率 |
0.1微米 |
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校准后精度 |
10至30微米区间：±0.5微米 |
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30微米以上：±2% |
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校准厚度范围内线性度（±10%） |
优于2% |
产品应用
- 主要采用非接触式测量圆柱形薄膜气泡厚度
- 适用于聚乙烯（PE）、聚丙烯（PP）、聚酰胺（PA）、乙烯-乙醇酸共聚物（EVOH）、热塑性聚氨酯（TPU）及类似材料制成的阻隔膜
- 适用于粘性薄膜
津公网安备12010102000945号
