Logos SystemsX射线&质子束检测系统XRV-124

XRV系列X射线和质子束检测系统将计量与高能辐射探测相结合，形成了一种完全电子化的胶片测量替代方案。该系统能够以非常高的速度和精度测量细电离辐射束的XYZ位置和矢量。光束矢量、轮廓和发散度可在数秒内获得，而传统方法则需要数小时。自动化脚本可用于捕获光束形状、强度、位置和方向随时间的变化，以便后续分析或进行三维体积重建。

XRV系统可验证质子和X射线治疗子系统（机器人、准直器、辐射源和kV成像器）是否协同工作，从而将辐射准确地输送到形状不规则的区域。光束位置测量精度可达0.3毫米，测量重复性通常为0.03毫米。矢量和光束查看软件支持实时任意角度查看所捕获的数据。该系统可实时采集多达 4,000 帧视频，帧速率为每秒 1 至 30 帧。

所有操作均由探测器模型配套的笔记本电脑或台式电脑控制。XRV 配备 30 米（100 英尺）长的光纤供电 USB 电缆系统，以便系统电脑和操作人员可以安全地远离辐射区域。探测器重约 8 公斤（17 磅）。

• 实时质子和X射线三维束矢量和轮廓捕获，可进行360度旋转。
• 140毫米视场长度。
• 4-60毫米束/场宽度。
• 无胶片Winston-Lutz输送精度分析。
• 快速星形照射模式机架摆动分析。
• 多叶准直器滑动窗口分析。
• 实时捕获长达10分钟的VMAT过程。
• VolumeWorks XL重建10×10×15厘米的三维注量体积。
• 用于图像引导的固定和可调参考标记。
• BeamWorks软件包含计划距离、束强度和尺寸的趋势分析和图表绘制功能。